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杉山 政彦*; 仁田 眞*; 谷 恒夫*; 瀬口 忠男; 八木 敏明
Proc. of 46th Int. Wire and Cable Symp., p.1 - 5, 1997/00
ケーブル用高分子絶縁材料の放射線劣化とそのメカニズムについて、放射線により誘起される酸化と電気特性、さらにゲル分率、引張特性、EPMAによる酸化層の分析、微少高度測定、超音波顕微鏡による観察を行った。この実験結果により、放射線酸化により電気特性が変化すること、ゲル分率の変化が酸化層の割合によく対応していること、及び試料表面の酸化層がノッチ効果と呼ばれる引張試験時の破壊を誘起していることが確認された。
B.Tang*; 梶 加名子; 吉沢 巌*; 小原 長二*; 畑田 元義
JAERI-M 91-134, 47 Pages, 1991/09
連続気泡型ポリエチレンフォームの放射線加工を行う時の基礎データとして、連続気泡型ポリエチレンフォームを電子線照射したときの強伸度及びゲル分率の変化、また照射後の加熱の効果について検討を行った。未照射フォームは化学架橋により、約50%のゲル分率を示す。このフォームに電子線照射することにより、ゲル分率は約30%増大したが、強度は、室温、70C及び100Cのいずれにおいても殆ど変化しなかった。しかし、70C及び100Cにおける伸度は小さくなり、化学架橋に更に放射線架橋を加えることにより、高温での伸びを防げることが明らかになった。また寸法安定性は電子線照射により著しく改善された。
斉藤 敏夫*; 瀬口 忠男; 長野 昭三郎*; 大前 巌*
JAERI-M 89-096, 28 Pages, 1989/08
ポリ(エチレン-2、6-ナフタレート)およびポリ(エチレン-テレクタレート)を真空中および酸素雰囲気で線照射し、分解ガス分析、分子鎖の架橋切断、熱的および機械的特性を調べて照射効果と耐放射性について検討した。PENとPETの分解ガスの主成分はCOであり、H、CO、CHが観察された。G(CO)はPENで0.04、PETで0.07であった。真空中では、PENでは架橋が起るのに対してPETでは主鎖切断が支配的であった。酸素中照射ではPENの架橋は阻害された。引張試験から耐放射線性を評価すると、酸化の起らない条件において、PENは12MGy、PETは2MGyであり、酸化条件においてはPENは4.5MGy、PETは1.4MGyであった。
斎藤 敏夫*; 瀬口 忠男
EIM-85-155, p.19 - 30, 1985/00
電気絶縁用エポキシ樹脂、及び塗膜用エポキシ樹脂の耐放射性を機械的特性、ゲル分率、発生ガス等により調べた。 放射線照射はCo-60線を用い、酸素加圧下と真空中で行なった。酸素加圧照射の条件は空気中換算で18Gy/n、4.5Gy/nの低線量照射を模擬した促進劣化である。エポキシ樹脂(ビスフェノールA+グリシジルエーテル)の硬化剤は、酸無水物一種とアミン三種である。 酸無水物硬化剤を用いた樹脂ではいずれの照射環境下でも耐放射線性が優れていることがわかった。しかしアミン硬化剤の場合には、酸素加圧下での照射では劣化が著しく進み、放射線場での実用に際しては、制限が必要である事がわかった。
山岸 滋; 高橋 良寿
Journal of Nuclear Science and Technology, 22(11), p.915 - 921, 1985/00
被引用回数:9 パーセンタイル:74.19(Nuclear Science & Technology)四塩化炭素-アンモニア系で首尾よくゲル化できるThOゾルの製造条件を検討した。その系は、真球度の秀れたゲル球を与えるが、高品質の原料ゾルを必要とするものである。ヘキソン-アンモニア系でのゲル化に適したThOゾル製造のために以前開発した前中和後pH制御下で中和を進める方法に、PH設定を2段階に行う方式を取入れた。その結果、コロイド粒子径を低下させることなく、ゾル中のThのコロイド等を高めることができた。これにより、ひびがなく大きな真球性ThO粒子を得ることができた。
瀬口 忠男; 早川 直宏; 吉田 健三; 田村 直幸; 勝村 庸介*; 田畑 米穂*
Radiation Physics and Chemistry, 26(2), p.221 - 225, 1985/00
高分子材料に対する高速中性子の照射効果を、ポリエチレン、エチレンプロピレンゴム、テトラフルオルエチレンプロピレンゴムについて、架橋および切断の数を測定して検討した。Co-60線と比較したところ、ゲル分率、膨潤比の変化は全く同じ結果を与え、架橋の数や密度分布に差のないことがわかった。高速中性子とCo-60線では、Linear Energy Tranofer(LET)が200倍異なることが知られているが、この大きなLETの差がPE,EPR,TFEPの架橋に反映されない理由を考察した。
瀬口 忠男; 荒川 和夫; 早川 直宏; 渡辺 祐平; 栗山 将
Radiation Physics and Chemistry, 19(4), p.321 - 327, 1982/00
高分子絶縁材料の放射線酸化劣化をゲル分率および膨潤比の測定から検討した。化学架橋したポリエチレン(PE)およびエチレン-プロピレンゴム(EPR)は真空中照射では架橋がさらに進行するのに対し、酸素加圧下で照射すると、切断が起りゲル分率が低下し、膨潤比が増大する。 EPRについては酸素下での照射量と膨潤比の変化に定量的な関係式が見出された。さらに酸化防止剤の効果が、ゲル分率、膨潤比の変化量から明瞭になり、定量化できた。
瀬口 忠男; 橋本 昭司; 荒川 和夫; 早川 直宏; 川上 和市郎; 栗山 将
Radiation Physics and Chemistry, 17, p.195 - 201, 1981/00
原子炉用の電線・ケーブル絶縁材料の耐放射線性を短時間で評価する方法として、高分子絶縁材料のポリエチレン、エチレンプロピレンゴムを酸素加圧下で線照射し酸化劣化を促進させる方法を検討した。フィルム状の試料では、酸化される領域は未酸化領域と明瞭に区別される。酸化の領域は酸素圧、線量率、酸素の拡散速度に依存しており、この関係を定量的に表すことができた。これを計算と、ゲル分率の測定の方法で求めた。
清水 雄一; 三井 光
Journal of Polymer Science; Polymer Chemistry Edition, 17(8), p.2307 - 2316, 1979/00
真空におけるポリスチレンの線橋かけ反応を、30~100Cの温度範囲において行った。線量率は63510rad/hrであった。水素の生成量は照射時間の増加および照射温度の上昇とともに増加するが、水素の生成速度は照射時間の増加に伴って低下する。ゲルの生成が初めて観測される限界時間以上照射すると、照射時間の増加とともにゲル分率は増加するが、ゲルの生成速度は照射時間の増加に伴って低下する。照射温度を上昇すると、ゲルの生成反応は抑制され、100Cでは極く僅かなゲル分率しか観測されない。水素の生成および消失反応がそれぞれ水素の生成量のゼロ次および一次に比例すると仮定した速度式を導き、水素の生成量を解析した。ゲル分率はCharlesby-Pinnerの式を用いて解析した。解析結果に基づいて、ポリスチレンの線橋かけ反応の機構を考察した。
関根 由莉奈; Chi, S.*; Fernandez Baca, J.*; 深澤 倫子*; 深澤 裕
no journal, ,
ハイドロゲルはポリマーネットワークに多量の水を含む物質であり、生体材料として広く応用されている。ゲル中の水は通常の水とは異なり、自由水, 中間水, 束縛水の3種類に区別することができる。本研究では、ゲル中の水の性質や構造を明らかにすることを目的として、DO 90wt%含有ゲル及びDO 55wt%含有ゲルについて中性子回折パターンの測定及び示差走査熱量測定を行った。低含水率のゲルでは低温下においてアモルファス氷, 立方晶氷, 六方晶氷の回折パターンを観察した。一方、高含水率のゲルでは、六方晶氷の回折パターンのみを観察した。DSCの結果より、低含水率のゲルは中間水, 束縛水のみを含み、高含水率のゲルは自由水, 中間水, 束縛水の3種類の水を含むことが明らかとなった。これらの結果は、ゲル中に自由水がない場合、アモルファス氷, 立方晶氷が形成されることを示唆する。本研究成果はゲル材料の開発に重要な知見となる。